HIOKI IM3570 Impedanz-Analysator
Beschreibung
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Vorteile des IM3570 LCR-Messgeräts und Impedanz-Analysators
- LCR-Messgerät und Impedanz-Analysator in einem: Ein einziges Gerät für Hochgeschwindigkeitstest und Frequenzsweeping.
- Prüfgeschwindigkeiten von 1,5 ms (1 kHz) und 0,5 ms (100 kHz) im LCR-Modus.
- Messfrequenz 4 Hz bis 5 MHz.
HIOKI IM3570 Impedanz-Analysator
Der HIOKO IM3570 ist ein LCR-Messgerät und Impedanz-Analysator - eine Lösung in einem Gerät für Hochgeschwindigkeitstests und Frequenz-Sweeping. Das Gerät eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen bei der Prüfung von elektronischen Bauteilen. Dank seiner überragenden Wiederholbarkeit bei niedrigen Impedanzen ist das IM3570 die ideale Lösung für Anwendungen, die eine Messung mit niedrigem ESR-Wert in der Größenordnung von einigen Milliohm erfordern, wie z. B. die Prüfung von funktionalen Polymerkondensatoren.
- LCR-Messgerät und Impedanzanalysator.
- Ein einziges Gerät für kontinuierliche LCR/DCR/Sweep-Messungen und Hochgeschwindigkeits-Prüfungen.
- Hochgeschwindigkeitsprüfung mit maximalen Geschwindigkeiten von 1,5 ms (1 kHz) und 0,5 ms (100 kHz) im LCR-Modus.
- Hochpräzise Messungen mit einer Grundgenauigkeit (Z-Parameter) von ±0,08%.
- Perfekter Impedanzanalysator zur Prüfung der Resonanz-Eigenschaften von piezoelektrischen Elementen, C-D- und Low-ESR-Messung von funktionalen Polymerkondensatoren, DCR- und L-Q-Messung von Induktivitäten (Spulen und Transformatoren).
- Durchführung von Frequenzsweeps, Pegelsweeps und Zeitintervall-Messungen im Analysatormodus.
Modell-Übersicht
| Model | HIOKI IM3570 |
| Messmodi | LCR-Modus, Analyzer-Modus (Sweeps mit Messfrequenz und Messpegel), kontinuierlicher Messmodus |
| Messparameter | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (Gleichstromwiderstand), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tan δ), Q |
| Messbereich | 100 mΩ...100 MΩ, 12 Bereiche (alle Parameter werden in Abhängigkeit von Z bestimmt) |
| Anzeigebereich | Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp: ±(0,000000 [Einheit] bis 9,999999 G [Einheit], Absolutwertanzeige nur für Z und Y; θ: ±(0.000°...180.000°), D: ±(0.000000...9.999999); Q: ±(0.00...99999.99), Δ%: ±(0.0000%...999.9999%) |
| Grundgenauigkeit | Z ±0,08% rdg. θ: ±0,05° |
| Messfrequenz | 4 Hz...5 MHz (5-stellige Einstellauflösung, Mindestauflösung 10 mHz) |
| Messsignalpegel | Normalmodus: V-Modus/CV-Modus: 5 mV...5 Veff (bis zu 1 MHz); 10 mV...1 Veff (1,0001...5 MHz), 1 mVeff-Schritte; CC-Modus: 10 µA...50 mAeff (bis zu 1 MHz); 10 µA...10 mAeff (1,0001...5 MHz), 10 µAeff-Schritte. Niederohmiger Modus mit hoher Genauigkeit: V-Modus/CV-Modus: 5 mV...1 Veff (bis zu 100 kHz), 1 mVeff-Schritte; CC-Betrieb: 10 µA...100 mAeff (100 mΩ und 1 Ω Bereiche bis 100 kHz), 10 µAeff-Schritte |
| Ausgangsimpedanz | Normaler Modus: 100 Ω, niedrige Impedanz, Hochgenauigkeitsmodus: 10 Ω |
| Anzeige | 5,7"/14,5 cm Farb-TFT, Anzeige kann auf ON/OFF eingestellt werden |
| Messzeit | 0,5 ms (100 kHz, FAST, Display OFF, repräsentativer Wert) |
| Funktionen | DC-Bias-Messung, Komparator, BIN-Messung (Klassifizierung), Panel laden/speichern, Speicherfunktion |
| Schnittstellen | EXT I/O (Handler), RS232C, GPIB, USB-Kommunikation, USB-Speicher, LAN |
| Abmessungen (mm) | 330 x 119 x 307; 5,8 kg |
Lieferumfang; IM 3670, Netzkabel, Bedienungsanleitung, Bedienungsanleitung für PC-Kommunikation (CD).
