HIOKI BT5525 Batterie-Isolationstester
Vorteile des BT5525-Testers mit BBD- und Isolationswiderstands-Prüfung
- Erkennt Verunreinigungen, die Defekte verursachen könnten.
- Verbessert die Produktivität von Batteriezellen durch Hochgeschwindigkeits-Tests.
- Ideal für die Isolationswiderstandsprüfung vor der Befüllung mit Batterie-Elektrolyt.
HIOKI BT5525 Batterie-Isolationstester
Der HIOKI BT5525 ist ein vielseitiger und schneller Batterie-Isolationstester. Die BDD-Funktion (Break-Down-Detect) erkennt kleinste, durch Verunreinigungen verursachte Isolationsdefekte und hilft so, Probleme wie Brände und Unfälle durch Erhitzung nach Auslieferung der Batterie zu vermeiden sowie Batterie-Degradation zu verringern.
- Ideal für Batterie-Produktionslinien.
- Erkennt durch Verunreinigungen verursachte, winzige Isolationsfehler (BDD/Break-Down-Detect-Funktion): Hilft bei der Vermeidung von Gefahren wie Bränden und Unfällen, die durch Erhitzung nach der Auslieferung von Batterien verursacht werden. Trägt zur Herstellung von Batterien mit längerer Lebensdauer und höherer elektrischer Leistung bei, da winzige interne Kurzschlüsse in den Zellen die Degradation der Batterie beschleunigen.
- Stabile Isolationswiderstands-Prüfung, auch in störungsbehafteten Umgebungen.
- Die Kontakt-Prüfungsfunktion reduziert die Anzahl falsch-negativen Ergebnisse, die beim Messen entstehen können.
- Ideal für Isolationswiderstands-Prüfungen vor dem Befüllen des Batterie-Elektrolyts.
- Verkürzung der Zykluszeiten mit einem maximalen Ladestrom von 50 mA.
- Dank seiner kompakten Abmessungen lässt sich der BT5525 leicht in andere Systeme integrieren.
- PC-Anwendung zur Analyse von Wellenformen; mit Datenausgabe im CSV-Format.
- Anwendungen: Hersteller und Systemintegratoren von Lithium-Ionen-Batterien, Produktion von Lithium-Ionen-Spezialbatterien in kleinem Maßstab.
Modell-Übersicht
Modell | BT5525 |
Hauptprüfmerkmale | Isolationswiderstandsprüfung; Funktion zur Erkennung von Unterbrechungen (BDD); Kontaktprüfungsfunktion |
Ausgangs-Spezifikationen | Ausgangsspannung 25...500 V, Einstellauflösung 1 V; Ladestrom (Strombegrenzungsfunktion) 50 µA...50 mA (siehe auch detaillierte Angaben im Datenblatt), Mindestauflösung 10 µA; Kurzschlussstrom 60 mA oder weniger; Entladestrom bis 40 mA |
Mess-Spezifikationen | Widerstandswertanzeigebereich 0,050...9999 MΩ; Widerstandsbereiche 2 MΩ, 20 MΩ, 200 MΩ, 2000 MΩ, AUTO |
Grundspezifikationen | ±1,5% rdg. ±2 dgt.; 25 V ≤ V < 100 V (0,05...2 MΩ),; 100 V ≤ V ≤ 500 V (0,2...20 MΩ) |
Zeitangaben | Prüfzeit 0,050...999,999 s, AUS; Komparator-Verzögerungszeit 0,001...999,999 s, AUTO; Aktualisierungs-Geschwindigkeit der Anzeige 1 PLC; Abtastzeit 1...100 PLC |
Speicherfunktionen | Panel-Speicherfunktion: Speichert bis 15 Sätze von Messbedingungen. Messwertspeicherfunktion: Speichert bis 999 Messwerte im internen Speicher des Geräts |
Beurteilungs-Funktionen | Testmodi: Dauertest, PASS STOP, FAIL STOP; Komparatorfunktion: UPPER_FAIL (Messwert < oberer Grenzwert), PASS(oberer Grenzwert ≥ Messwert ≥ unterer Grenzwert), LOWER_FAIL (Messwert ≤ unterer Grenzwert |
Verschiedene Funktionen | Break-Down-Detect-Funktion (BDD): Erkennung von kleinsten Isolationsfehlern, die durch Verschmutzung verursacht werden. Kontaktprüfungsfunktion: 2-Klemmen-Kapazitätsmessverfahren. Automatische Datenausgabe-Funktion: Automatische Ausgabe der Messergebnisse über die Kommunikations-Schnittstelle nach Abschluss der Prüfung. Befehlsüberwachungs-Funktion: Bildschirmanzeige der gesendeten und empfangenen Befehle. Externe I/O-Überwachungsfunktion: Bildschirmanzeige von Ausgangssignal ON/OFF und Eingangssignalstatus. Analoge Ausgangsfunktion: Konvertiert Messwerte in 0...4 VDC und gibt sie aus |
Schnittstellen | USB, LAN, RS232C, EXT I/O |
Spannungsversorgung | 100...240 VAC, Verbrauch ca. 20 VA |
Max. Nennleistung | 100 VA |
Abmessungen (mm) | 215 x 80 x 307 (ohne überstehende Teile), ca. 2,8 kg |
Lieferumfang: Hioki BT 5525, Netzkabel, EXT I/O-Stecker, EXT I/O-Steckerabdeckung, EXT I/O-Verriegelungsvorrichtung, Anleitung für die Inbetriebnahme.
Anschluss-Zubehör
Modell | Beschreibung |
L2130 | Clipkabel rot für BT5525, für HIGH-Anschluss, Bananen-/Krokodilklemme, 1,5 m lang |
L2131 | Clipkabel schwarz für BT5525, für Klemme LOW, spezielle Triaxial-/Krokodilklemme, 1,5 m lang |
L2132 | Unkonfektioniertes Kabel rot für BT5525, für Klemme HIGH, Banane/geschnittener Draht, 5 m lang |
L2133 | Unkonfektioniertes Kabel schwarz für BT5525, für LOW-Klemme, spezieller Triaxialdraht/Schnitt, 5 m lang |
L9094 | Ausgangskabel für BT5525, Speicher-Rekorder, Anzeigegeräte CM7290/91 und ähnliche Produkte, 3,5 mm Ministecker auf 4 mm/Banane, 1,5 m lang |
L9637 | RS232C-Kabel, 9-polig auf 9-polig, 1,8 m lang |
Häufig gestellte Fragen:
Frage: Welche Funktionen erfüllt der HIOKI BT5525 und was sind seine Vorteile?
Antwort: Der Batterie-Isolationstester BT5525 erkennt Durchschläge/Durchbrüche in der Isolation/Separator zwischen positiver und negativer Elektrode einer Batterie durch winzige Verunreinigungen (BDD-/Break-Down-Detect-Funktion). Gemessen wird der Isolationswiderstand. Für einen komfortablen und sicheren Einsatz des Gerätes sorgen Features wie schnelles Laden/Entladen, eine 2-Draht Kontakt-Check-Funktion sowie eine hohe Unempfindlichkeit gegen Rauschen.
Frage: Worin unterscheiden sich Isolationstest und HiPot-Test?
Antwort: Isolationstests werden in der Batterie-Produktion vor der Hochspannungsprüfung durchgeführt. Bevor das Elektrolyt eingefüllt wird, wird der Isolationswiederstand zwischen Anode und Kathode gemessen, ebenso nach der Befüllung mit dem Elektrolyten. Zudem können am Ende der Produktionslinie Sicherheitsprüfungen für Module und Packs zwischen Gehäuse und Plus-/Minus-Polen der Batterie durchgeführt werden. Gemessen wird dabei der Isolationswiderstand. Es gibt derzeit keinen Standard für diese Messungen. Üblicherweise legt der Tester eine DC-Spannung von ca. 200 V (Ausgangsspannung HOKI BT5525: 25...500 V) an.
Bei der Hochspannungsprüfung/HiPot-Test wird der Prüfling mit einer höheren Spannung als der Nennspannung beaufschlagt, um eventuelle Leckströme zu erkennen. Dadurch wird die Durchschlagspannung an einer Schwachstelle bestimmt. Gemessen wird der Leckstrom.
Frage: Wodurch entstehen Mikro-Kurzschlüsse?
Antwort: Mikro-Kurzschlüsse werden durch winzige Verunreinigungen (Metall-Partikel) in der Zelle verursacht. Diese entstehen zum Beispiel beim Zuschneiden der Materialien. Der Separator bildet die Isolation zwischen Anode und Kathode. Die Verunreinigungen verursachen Mikro-Kurzschlüsse, diese führen zu Durchbrüchen und zu einem defekten Separator. Herkömmliche Isolationstester erkennen - im Gegensatz zum HIOKI BT5525 - aufgrund geringer Sampling-Geschwindigkeiten diese Mikrodefekte nicht und bewerten die Prüflinge im Test mit "Pass". Die Mikrodefekte können jedoch zu schnellerer Verschlechterung der Batterie, Selbstentladung und im schlimmsten Fall bis hin zum Brand führen.
Angaben zur Produktsicherheit:
Hersteller:
HIOKI E.E. Corporation, 81 Koizumi Ueda, Nagano 386-1192/JPN
www.hioki.com
(EU-Niederlassung Deutschland)