HIOKI 350x Serie C-Messgeräte/Tester
Vorteile der Kapazitätsprüfgeräte 3504 und 3506
- Geräte für die Prüfung von kleinen oder großen (MLCC) Kapazitäten.
- Messfrequenzen von 1 kHz/1 MHz oder 120 Hz/1 kHz.
- Ideal für die Prüfung von Band- und Sortiermaschinen.
HIOKI 350x Serie C-Messgeräte/Tester
Die HIOKI 350x-Serie ist eine Familie von Kapazitätsmessgeräten. Während das C-Meter 3506-10 ein Gerät für die Prüfung kleiner Kapazitäten ist, sind die Tester 3504-60/-50/-40 MLCC-Tester (Multi Layer Ceramic Capacitor/Keramikvielschicht-Chipkondensator) für große Kapazitäten ausgelegt. Eine Vielzahl von Merkmalen trägt zur Verbesserung der Kondensatorprüfung bei, wie z. B. analoge Messzeiten von nur 0,6 ms (oder 1,5 ms FAST, 1 MHz, 3506-10), Komparator-, BIN- (Klassifizierung von C-Messwerten), Speicher-, Kontaktprüfungs-Funktion und Trigger-Synchronausgang.
- C-Messgerät HIOKI 3506-10:
- Gerät für die Prüfung kleiner Kapazitäten mit Messfrequenzen von 1 kHz und 1 MHz.
- Hochgeschwindigkeitsmessung mit einer analogen Messzeit von 0,6 ms (1 MHz).
- Verbesserte Rauschfestigkeit und drastisch erhöhte Wiederholbarkeit für die Messung kleinster Kapazitätswerte.
- Stabile Messung von niederkapazitiven Kondensatoren bei 1 MHz.
- C-Tester HIOKI 3504-60/3504-50/3504-40:
- Messgerät für MLCC-Tests mit großen Kapazitäten und Messfrequenzen von 120 Hz und 1 kHz.
- Konstantspannungsmessung mit einer analogen Messzeit von 1 ms (1 kHz); ideal für die Messung von hochkapazitiven MLCCs.
- Konstantspannungsmessung von hohen Kapazitätswerten bis zu 1,45 mF (120 Hz, 500 mV).
- Modell 3504-60 ermöglicht die Überprüfung von Kontakten mit vier Anschlüssen.
Modell-Übersicht
| Modell | 3504-40 | 3504-50 | 3504-60 | 3506-10 |
| Typ | C-Tester/Großkapazitäts-MLCC-Prüfung | C-Meter/Niederkapazitätsprüfung | ||
| Gemessene Parameter | C (Kapazität), D (Verlustfaktor tan δ) | C (Kapazität), D (Verlustfaktor tan δ), Q (1/tan δ) | ||
| Messfrequenzen | 120 Hz, 1 kHz | 1 kHz, 1 MHz | ||
| Messwertbereich | C: 0,9400 pF...20,0000 mF; D: 0,00001...1,99999 | C: 0,000 fF...15,0000 µF; D: 0,00001...1,99999; Q: 0,0...19999,9 | ||
| Messzeit | Nominal 2 ms (1 kHz, FAST; die Messzeit hängt von der eingestellten Messfrequenz und Messgeschwindigkeit ab) | Repräsentativer Wert: 1,5 ms (FAST; die tatsächliche Messzeit hängt von den Einstellungen der Messkonfiguration ab) | ||
| Messgeschwindigkeit | FAST/NORMAL/SLOW | FAST/NORMAL/SLOW | ||
| Vierpolige Kontaktprüfungsfunktion | - | - | Erkennt Kontaktanomalien (offener Zustand bei vierpoligen Messungen) | - |
| BIN-Messung | - | C: 14 Ränge, D-NG, OUT OF BINS, Absolutwerteinstellung, Δ%-Einstellung | C: 13 Ränge, D-NG, OUT OF BINS, Absolutwerteinstellung, Δ-Einstellung, Δ%-Einstellung | |
| Anzeige | LED | |||
| Schnittstellen | RS232C, EXT I/O | RS232C, GPIB, EXT I/O | RS232C, GPIB und EXT I/O | |
| Drucker-Funktion: Messwerte können ausgedruckt werden (erfordert optionalen Drucker 9442 und optionales Anschlusskabel 9444) | ||||
| Speicherfunktion | Bis zu 32.000 Messwerte können im Gerät gespeichert werden (downloadbar über RS232C oder GPIB) | Bis zu 1.000 Messwerte können im Gerät gespeichert werden (downloadbar über RS232C oder GPIB) | ||
| Abmessungen (mm) ca. | 260 x 100 x 220; 3,8 kg | 260 x 100 x 298; 4,8 kg | ||
Lieferumfang: 3506 oder 3504 (einer der Giganten), Netzkabel, Ersatzsicherung
Angaben zur Produktsicherheit:
Hersteller:
HIOKI E.E. Corporation, 81 Koizumi Ueda, Nagano 386-1192/JPN
www.hioki.com
(EU-Niederlassung Deutschland)
